Observatorio Astronómico Nacional Imagen Observatorio de Yebes Official OAN web page Imagen IGN


Biblioteca de los Observatorios de Alcalá de Henares y Retiro


1416 ("TM-Y") - "Wire bonding in microelectronics : Materials, processes, reliability, and yield (0)

Título: "Wire bonding in microelectronics : Materials, processes, reliability, and yield
Autor: "HARMAN, George"
Coautor(es):
Registro: 1416
Año: 0
Signatura: "TM-Y"
Volumen:
Materia:
Editorial: "MCGRAW-HILL"
Fecha de entrada: 2026-05-03
Notas: "CDU: 621.3815"
Ubicación:   IMPORTANTE: nombre identificativo (correo electrónico hasta '@', nombre completo, ...)



2013 @ L.Barbas